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GB/T 21865-2008 用半自動和自動圖象分析法測量平均粒度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法

GB/T 21865-2008 用半自動和自動圖象分析法測量平均粒度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬和非金屬多晶體材料的平均晶粒度、截距和晶粒面積分布的基本測量方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于等軸型和伸長型晶粒結(jié)構(gòu)的單一相和雙相系試樣。
本標(biāo)準(zhǔn)同樣適用于其他類似晶型結(jié)構(gòu)的物質(zhì)，如蜂窩結(jié)構(gòu)的物質(zhì)。
本標(biāo)準(zhǔn)需要使用半自動或全自動圖像分析儀器。
本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性試驗(yàn)方法，它不能確定受檢驗(yàn)材料是否接受或適合適用的范圍。
本標(biāo)準(zhǔn)未考慮與試驗(yàn)相關(guān)的所有安全問題。試驗(yàn)人應(yīng)自己負(fù)責(zé)與安全及健康相關(guān)的措施。